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X射线仪器
XRD检测--婴儿爽身粉中石棉的定量分析
XRD检测--API多晶型分析
XRD检测--药用滑石粉中石棉的测定
XRD检测--蒙脱石散及杂质的鉴定
XRD检测--介孔分子筛SBA-15结构分析
XRD检测--淀粉结晶度测定
XRD检测--石墨化度分析
XRD检测--粉煤灰中晶态矿相及非晶相定量分析
XRD检测--波特兰水泥熟料矿相定量分析
XRD检测--纳米二氧化钛晶粒尺寸
半导体行业专用仪器
单晶硅片少子寿命测试仪-MDPspot台式单点寿命检测仪
微波光电导衰减法-MDPmap晶圆片寿命检测仪
MDPlinescan在线晶圆片/晶锭点扫或面扫检测仪
MDPinline高速晶圆片在线面检测仪-一秒内完成晶
少子寿命测试仪-MDPinline ingot晶锭在线面扫检测仪
单点硅片寿命测试MDPpro晶圆片/晶锭寿命检测仪
德国弗莱贝格XRD-OEM-在线X射线衍射仪
全自动石英晶圆分析仪石英晶体X射线衍射仪
弗莱贝格XRD-SDCOM-小晶体样品台式X射线单晶定向仪
弗莱贝格XRD-DDCOM台式X射线晶体定向仪
无损检测/无损探伤仪器
工业部件缺陷高分辨三维X射线显微成像系统
微纳米ct-高分辨率X射线三维成像系统-三维成像显微镜
高精度CT扫描系统-医疗植入物的孔缝检测
多量程x射线纳米ct系统-x射线三维显微镜生产
高分辨三维X射线显微成像-地质、油气勘探CT
微焦点CT半导体元器件X射线显微成像-布鲁克代理商
(3D-XRM)高容量三维X射线显微成像系统SkyScan 1273
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高分辨显微CT纳米CT SKYSCAN 2214
生物医疗
波谱仪器
EN 13708-2001 ESR光谱法检测含纤维素经过辐射的食品
EN 1786-1996含骨辐射食品的检测.ESR法
EN 1787-2000含纤维辐照食品鉴定
EN 1787-2000含纤维辐照食品鉴定
布鲁克电子自旋(顺磁)共振波谱仪(ESR) MS 5000
丙氨酸剂量测定系统Magnettech MS 5000
布鲁克台式电子顺磁共振波谱仪Micro ESR
布鲁克mq-ProFiler时域核磁共振分析仪
布鲁克minispec mq系列时域核磁共振分析仪
其他
热释光考古测定仪-lexsyg research科研型释光仪
LEDμSF便携式荧光光谱仪
LEDμSF便携式荧光光谱仪
lexsyg research释光测定仪
lexsyg smart释光测定仪
实验室服务
材料科学显微CT孔隙颗粒
材料科学显微CT孔隙颗粒
材料研究显微CT检测服务
显微CT检测服务SKYSCAN石油地质天然气
工业CT复合材料CT检测系统skyscan
光谱检测分析仪
HORIBA高灵敏一体式FluoroMax-4荧光光谱仪
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HORIBA XploRA INV多功能拉曼及成像光谱仪
HORIBA XploRA Nano原子力-拉曼联用系统
HORIBA LabRAM Soleil™高分辨超灵敏智能拉曼成像仪
元素分析仪
艾力蒙塔CHNOS全能元素分析仪
杜马斯定氮仪
elementar碳硫分析仪
elementar rapid N exceed定氮仪
水质分析
elementar acquray TOC总有机碳分析仪
elementar soli TOC cube总有机碳分析仪
临床检验仪器设备
化学发光仪+微光科技
化学发光仪
质谱检测分析仪
稳定同位素质谱+Isoprime100
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产品系列
产品描述
布鲁克 D8 达芬奇 X射线衍射仪
布鲁克D8达芬奇X射线衍射仪
型号:D8 Advance
产地:德国
布鲁克AXS公司全新的D8 ADVANCE X射线衍射仪,采用创造性的达芬奇设计,通过TWIN-TWIN光路设计,成功实现了BB聚焦几何下的定性定量分析和平行光几何下的薄膜掠入射GID分析、薄膜反射率XRR分析的全自动切换,而无需对光。通过全新的TWIST TUBE技术,使用户可以在1分钟内完成从线光源应用(常规粉末的定性定量分析、薄膜的GID、XRR)到点光源应用(织构、应力、微区)的切换,让烦人的光路互换、重新对光等问题从此成为历史!
高精度的测角仪可以保证在全谱范围内的每一个衍射峰(注意不是一个衍射峰)的测量峰位和标准峰位的误差不超过0.01度,布鲁克AXS公司提供全球保证!
先进的林克斯阵列探测器可以提高强度150倍,不仅答复提高设备的使用效率, 而且大幅提高了设备的探测灵敏度。
技术指标:
Theta/theta 立式测角仪
2Theta角度范围:-110~168°
角度精度:0.0001度
Cr/Co/Cu靶,标准尺寸光管
探测器:林克斯阵列探测器、林克斯XE阵列探测器
仪器尺寸:1868x1300x1135mm
重量:770kg
应用
物相定性分析
结晶度及非晶相含量分析
结构精修及解析
物相定量分析
点阵参数精确测量
无标样定量分析
微观应变分析
晶粒尺寸分析
原位分析
残余应力
低角度介孔材料测量
织构及ODF分析
薄膜掠入射
薄膜反射率测量
小角散射