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X射线仪器
XRD检测--婴儿爽身粉中石棉的定量分析
XRD检测--API多晶型分析
XRD检测--药用滑石粉中石棉的测定
XRD检测--蒙脱石散及杂质的鉴定
XRD检测--介孔分子筛SBA-15结构分析
XRD检测--淀粉结晶度测定
XRD检测--石墨化度分析
XRD检测--粉煤灰中晶态矿相及非晶相定量分析
XRD检测--波特兰水泥熟料矿相定量分析
XRD检测--纳米二氧化钛晶粒尺寸
半导体行业专用仪器
单晶硅片少子寿命测试仪-MDPspot台式单点寿命检测仪
微波光电导衰减法-MDPmap晶圆片寿命检测仪
MDPlinescan在线晶圆片/晶锭点扫或面扫检测仪
MDPinline高速晶圆片在线面检测仪-一秒内完成晶
少子寿命测试仪-MDPinline ingot晶锭在线面扫检测仪
单点硅片寿命测试MDPpro晶圆片/晶锭寿命检测仪
德国弗莱贝格XRD-OEM-在线X射线衍射仪
全自动石英晶圆分析仪石英晶体X射线衍射仪
弗莱贝格XRD-SDCOM-小晶体样品台式X射线单晶定向仪
弗莱贝格XRD-DDCOM台式X射线晶体定向仪
无损检测/无损探伤仪器
工业部件缺陷高分辨三维X射线显微成像系统
微纳米ct-高分辨率X射线三维成像系统-三维成像显微镜
高精度CT扫描系统-医疗植入物的孔缝检测
多量程x射线纳米ct系统-x射线三维显微镜生产
高分辨三维X射线显微成像-地质、油气勘探CT
微焦点CT半导体元器件X射线显微成像-布鲁克代理商
(3D-XRM)高容量三维X射线显微成像系统SkyScan 1273
(3D-XRM)高容量三维X射线显微成像系统SkyScan 1273
高分辨显微CT纳米CT SKYSCAN 2214
生物医疗
波谱仪器
EN 13708-2001 ESR光谱法检测含纤维素经过辐射的食品
EN 1786-1996含骨辐射食品的检测.ESR法
EN 1787-2000含纤维辐照食品鉴定
EN 1787-2000含纤维辐照食品鉴定
布鲁克电子自旋(顺磁)共振波谱仪(ESR) MS 5000
丙氨酸剂量测定系统Magnettech MS 5000
布鲁克台式电子顺磁共振波谱仪Micro ESR
布鲁克mq-ProFiler时域核磁共振分析仪
布鲁克minispec mq系列时域核磁共振分析仪
实验室服务
材料科学显微CT孔隙颗粒
材料科学显微CT孔隙颗粒
材料研究显微CT检测服务
显微CT检测服务SKYSCAN石油地质天然气
工业CT复合材料CT检测系统skyscan
光谱检测分析仪
HORIBA高灵敏一体式FluoroMax-4荧光光谱仪
HORIBA高灵敏一体式FluoroMax-4荧光光谱仪
HORIBA XploRA INV多功能拉曼及成像光谱仪
HORIBA XploRA Nano原子力-拉曼联用系统
HORIBA LabRAM Soleil™高分辨超灵敏智能拉曼成像仪
其他
热释光考古测定仪-lexsyg research科研型释光仪
LEDμSF便携式荧光光谱仪
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元素分析仪
艾力蒙塔CHNOS全能元素分析仪
杜马斯定氮仪
elementar碳硫分析仪
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水质分析
elementar acquray TOC总有机碳分析仪
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临床检验仪器设备
化学发光仪+微光科技
化学发光仪
质谱检测分析仪
稳定同位素质谱+Isoprime100
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产品系列
产品描述
Mono- and Multi-crystalline wafer and brick lifetime measurement device
应用范围:用于常规质量控制、精密材料研发的单晶和多晶片及晶锭的寿命测量
根据SEMI标准PV9-1110的非接触式和无损成像(μPCD / MDP(QSS))、光电导性、电阻率和p/n检查。
晶圆切割,炉内监控,材料优化等。
日常寿命测量,质量控制和检验◆产量:>240块/天或>720片/天
◆测量速度:对于156x156x400mm标准晶锭,<4分钟
◆生产改善:1mm切割标准为156x156x400mm标准晶锭
◆质量控制:用于过程和材料的质量监控,如单晶硅或多晶硅
◆污染测定:起源于炉和设备的金属(Fe)
◆可靠性:模块化和坚固耐用的工业仪器,更高的可靠性和运行时间> 99%
◆可重复性:> 99.5%
◆电阻率:不需要经常校准
精密材料研发
铁浓度测定
陷阱浓度测定
硼氧测定
依赖于注入的测量等
特性
完全无触点无破坏的半导体特性
特殊的“表面之下”寿命测量技术
不可见缺陷的灵敏度的可视化
自动切割标准定义
空间分辨p/n电导型变换检测