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产品简介
纳米材料的性能往往和其晶粒大小有关，而X射线衍射是测定纳米材料晶尺寸的有效方法之一。
晶粒尺寸Dhkl(可理解为一个完整小单晶的大小)可通过谢乐公示计算：
Dhkl：晶粒尺寸，垂直于晶面hkl方向
β:hkl晶面的半高宽（或展宽）
θ：hkl晶面的bragg角度
λ：入射X光的波长，一般Cu靶为1.54埃
K：常数（晶粒近似为球形，K=0.89；其他K=1）
实例纳米TiO2晶粒尺寸14nm
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