手机版 |
产品分类 |
X射线仪器
XRD检测--婴儿爽身粉中石棉的定量分析
XRD检测--API多晶型分析
XRD检测--药用滑石粉中石棉的测定
XRD检测--蒙脱石散及杂质的鉴定
XRD检测--介孔分子筛SBA-15结构分析
XRD检测--淀粉结晶度测定
XRD检测--石墨化度分析
XRD检测--粉煤灰中晶态矿相及非晶相定量分析
XRD检测--波特兰水泥熟料矿相定量分析
XRD检测--纳米二氧化钛晶粒尺寸
半导体行业专用仪器
单晶硅片少子寿命测试仪-MDPspot台式单点寿命检测仪
微波光电导衰减法-MDPmap晶圆片寿命检测仪
MDPlinescan在线晶圆片/晶锭点扫或面扫检测仪
MDPinline高速晶圆片在线面检测仪-一秒内完成晶
少子寿命测试仪-MDPinline ingot晶锭在线面扫检测仪
单点硅片寿命测试MDPpro晶圆片/晶锭寿命检测仪
德国弗莱贝格XRD-OEM-在线X射线衍射仪
全自动石英晶圆分析仪石英晶体X射线衍射仪
弗莱贝格XRD-SDCOM-小晶体样品台式X射线单晶定向仪
弗莱贝格XRD-DDCOM台式X射线晶体定向仪
无损检测/无损探伤仪器
工业部件缺陷高分辨三维X射线显微成像系统
微纳米ct-高分辨率X射线三维成像系统-三维成像显微镜
高精度CT扫描系统-医疗植入物的孔缝检测
多量程x射线纳米ct系统-x射线三维显微镜生产
高分辨三维X射线显微成像-地质、油气勘探CT
微焦点CT半导体元器件X射线显微成像-布鲁克代理商
(3D-XRM)高容量三维X射线显微成像系统SkyScan 1273
(3D-XRM)高容量三维X射线显微成像系统SkyScan 1273
高分辨显微CT纳米CT SKYSCAN 2214
生物医疗
波谱仪器
EN 13708-2001 ESR光谱法检测含纤维素经过辐射的食品
EN 1786-1996含骨辐射食品的检测.ESR法
EN 1787-2000含纤维辐照食品鉴定
EN 1787-2000含纤维辐照食品鉴定
布鲁克电子自旋(顺磁)共振波谱仪(ESR) MS 5000
丙氨酸剂量测定系统Magnettech MS 5000
布鲁克台式电子顺磁共振波谱仪Micro ESR
布鲁克mq-ProFiler时域核磁共振分析仪
布鲁克minispec mq系列时域核磁共振分析仪
其他
热释光考古测定仪-lexsyg research科研型释光仪
LEDμSF便携式荧光光谱仪
LEDμSF便携式荧光光谱仪
lexsyg research释光测定仪
lexsyg smart释光测定仪
实验室服务
材料科学显微CT孔隙颗粒
材料科学显微CT孔隙颗粒
材料研究显微CT检测服务
显微CT检测服务SKYSCAN石油地质天然气
工业CT复合材料CT检测系统skyscan
光谱检测分析仪
HORIBA高灵敏一体式FluoroMax-4荧光光谱仪
HORIBA高灵敏一体式FluoroMax-4荧光光谱仪
HORIBA XploRA INV多功能拉曼及成像光谱仪
HORIBA XploRA Nano原子力-拉曼联用系统
HORIBA LabRAM Soleil™高分辨超灵敏智能拉曼成像仪
元素分析仪
艾力蒙塔CHNOS全能元素分析仪
杜马斯定氮仪
elementar碳硫分析仪
elementar rapid N exceed定氮仪
水质分析
elementar acquray TOC总有机碳分析仪
elementar soli TOC cube总有机碳分析仪
临床检验仪器设备
化学发光仪+微光科技
化学发光仪
质谱检测分析仪
稳定同位素质谱+Isoprime100
联系方式 |
产品系列
产品描述
Mono- and Multi-crystalline wafer lifetime measurement device
应用范围:用于精密材料研发的单晶和多晶片的寿命测量
特性
●灵敏度:外延片不可见的缺陷和检测的 灵敏度的可视化
●测量速度:6英寸硅晶圆片,1mm分辨率 ,小于5分钟
●使用寿命: 20纳秒到几毫秒
●污染测定:源自炉和设备的金属(Fe)污染
●测量能力:从初始切割的晶圆片到完全加工的样品
●灵活性:固定测量头允许外部激光与触发器耦合
●可靠性: 模块化和紧凑的台式仪器,更高的可靠性和正常运行时间> 99%
●重现性: > 99.5%
●电阻率:不需要频繁校准
用于研发或生产监控的灵活检测工具
MDPmap是一个紧凑的台式无触点电子特性的离线生产控制或研发的工具。可测量参数如载流子寿命、光电导性、电阻率、缺陷信息在稳态或注入范围宽短脉冲励磁(μ-PCD)。自动化的样品识别和参数设置可以方便地适应各种不同的样品,包括在不同的制备阶段,从生长的晶圆片到高达95%的金属化晶圆片的外延片和晶圆片。。
MDPmap的主要优点是其高度的灵活性,它允许集成*多4个激光器,用于从超低注入到高注入的依赖于注入水平的寿命测量,或者使用不同的激光波长提取深度信息。包括偏置光设施以及μ-PCD或稳态注入条件的选项。可以使用不同的图进行客户定义的计算,也可以导出原始数据进行进一步的评估。对于标准计量任务,可用一个预定义的标准,使常规测量只需按一个按钮。